X荧光光谱仪UX-310的多种检测模式
信息来源于： 发布于：2022-07-24
X荧光光谱仪UX-310一般认为有三种分析模式，即点分析、线分析和面分析。
点分析：将电子探针固定在试样感兴趣的点上，进行定性或定量分析。该方法用于显微结构的成份分析，例如对材料晶界、夹杂、析出相、沉淀物、奇异相及非化学计量材料的组成等分析。
线分析：电子束沿一条分析线进行扫描（或试样扫描）时，能获得元素含量变化的线分布曲线。如果和试样形貌像（二次电子像或背散射电子像）对照分析，能直观地获得元素在不同相或区域内的分布。沿需要检测的线逐点测量成分，也可以划出该线的成分变化曲线。
面分析：将电子束在试样表面扫描时，元素在试样表面的分布能在CRT上以亮度分布显示出来（定性分析），亮度越亮，说明元素含量越高。研究材料中杂质、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常与形貌像对照分析。
针对不同检测场景和检测环境，对样品进行不同的检测模式。
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点分析：将电子探针固定在试样感兴趣的点上，进行定性或定量分析。该方法用于显微结构的成份分析，例如对材料晶界、夹杂、析出相、沉淀物、奇异相及非化学计量材料的组成等分析。
线分析：电子束沿一条分析线进行扫描（或试样扫描）时，能获得元素含量变化的线分布曲线。如果和试样形貌像（二次电子像或背散射电子像）对照分析，能直观地获得元素在不同相或区域内的分布。沿需要检测的线逐点测量成分，也可以划出该线的成分变化曲线。
面分析：将电子束在试样表面扫描时，元素在试样表面的分布能在CRT上以亮度分布显示出来（定性分析），亮度越亮，说明元素含量越高。研究材料中杂质、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常与形貌像对照分析。
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